一、什么是低应力氮化硅片?
低应力氮化硅片是在硅衬底上生长一层低应力氮化硅(SiNₓ)薄膜的晶圆,核心优势是应力可控(通常<200 MPa,甚至接近零)、低翘曲、高绝缘、高化学稳定性,广泛用于 MEMS、半导体与纳米生物器件。

二、低应力氮化硅片有哪些核心特征?
- 低应力:LPCVD 工艺可将张应力控制在50–200 MPa(常规氮化硅约 1000 MPa),有效防止薄膜开裂、硅片翘曲。
- 高机械强度:硬度高、耐磨,可做支撑膜与结构层。
- 优异绝缘性:击穿强度>15 kV/mm,是理想绝缘 / 钝化层。
- 化学稳定性:耐酸碱、抗腐蚀,适合湿法工艺与生物环境。
- 光学与表面特性:折射率约 2.0–2.3,表面粗糙度<1 nm,可见光 / 红外 / 软 X 射线透过性好。
三、低应力氮化硅片常规参数?
- 尺寸:2/3/4/6 英寸(主流 4/6 英寸)。
- 氮化硅厚度:20 nm–1 μm(常见 50/100/200 nm)。
- 硅片厚度:200/500 μm(可选)。
- 表面:单面 / 双面抛光;单面 / 双面氮化。
- 应力水平:<100 MPa(高端)、100–250 MPa(标准)。
- 折射率:2.2±0.05(@550 nm)。
四、我公司优势
销售氮化硅片,大量现货。
1.尺寸:2,3,4,6英寸;
2.工艺:LPCVD;LPCVD具有均匀性好,应力低,成膜质量好等优点,成本也较高;
3.氮化厚度:50nm、80nm、100nm、120nm、200nm、300nm、500nm、800nm、1um;
4.表面:单面抛光双面氮化、单面抛光单面氮化、双面抛光双面氮化;
5.硅片厚度:200um,500um等多种厚度;
6.应用:钝化膜、绝缘层、扩散掩膜。硅中的氮能提高硅单晶的强度,防止硅片翘曲,并能抑制微缺陷形成。用于半导体光刻、纳米压印、PVD/CVD镀膜、MEMS、半导体器件等领域;
7.供货能力:大量现货、参数齐全;当天出库;
8.订制能力:各种参数均可订制。
五、低应力氮化硅片主要制作工艺?
- LPCVD(低压化学气相沉积,最常用)
- 温度:800–850℃;压力:200–500 mTorr。
- 气源:二氯硅烷(DCS)+ 氨气(NH₃),通过高 DCS/NH₃比例(≈6)制备富硅低应力膜。
- 优点:均匀性好(<±5%)、质量高、应力稳定;缺点:高温、成本较高。
- PECVD(等离子增强化学气相沉积)
- 温度:<400℃,适合低温制程与塑料 / 玻璃衬底。
- 应力调控:通过气体比例与等离子体频率调节,应力范围宽(压应力到张应力)。
六、低应力氮化硅片主要应用?
MEMS 器件:加速度计、压力传感器、谐振器的结构层 / 钝化层,减少翘曲与失效。
半导体制造:钝化膜、绝缘层、扩散 / 刻蚀掩膜,提升器件可靠性与稳定性。
氮化硅薄膜窗(TEM/SEM):电子显微镜支撑膜,用于原位加热、液体环境与超薄样品观察。
纳米孔生物芯片:DNA 测序纳米孔窗口,化学稳定、耐高温、表面平整。
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