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常规单晶硅片、常规硅片大量供应

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一、什么是常规硅片,常规单晶硅片有哪些应用?

硅片的原始材料是高纯度的多晶硅,经过一系列复杂的加工工艺,包括晶体生长、研磨、抛光、切片等步骤后形成,以满足半导体芯片制造的要求。⠀

常规单晶硅片的应用:硅片广泛用于集成电路(IC)、功率半导体、传感器和光电子器件,是半导体行业的核心材料。它支撑了智能手机、计算机、5G通信、新能源汽车、工业控制等领域的发展。随着先进封装和硅光子技术的进步,硅片在高性能计算(HPC)和光通信中发挥着重要作用。

单晶硅片|常规硅片|常规单晶硅片|硅片镀膜

二、我公司提供的常规硅片、常规单晶硅片的性能参数。

单晶硅衬底(2~12英寸)
直径 50.8mm 76.2mm 100mm 150mm 200mm 300.mm
厚度 400μm 400μm 500μm 625μm 725μm 775μm
表面晶向 <100>   ∣   <111>    ∣    <110>
生长方式 CZ  ∣  FZ
掺杂类型 N-type(Si-doping/As-doping/Sb-doping) P-type(B-Doping) undoped
定位边晶向 16mm 22mm 32.5mm 47.5mm Notch Notch
电阻率 0.001-0.005ohm-cm 1-100ohm-cm >10000ohm-cm
正面状态 Epi-polished,Ra<0.5nm
反面状态 SSP:Etch; DSP:Epi-polished,Ra<0.5nm
总厚度偏差TTV ≤8μm ≤10μm ≤10μm ≤20μm ≤30μm ≤30μm
弯曲度BOW ≤10μm ≤12μm ≤15μm ≤25μm ≤40μm ≤45μm
翘曲度WARP ≤12μm ≤15μm ≤20μm ≤30μm ≤60μm ≤60μm
边缘去除 ≤2 mm ≤3 mm

三、单晶硅片的产品性能表

单晶硅 Si
Growth Method
生长方式
CZ/FZ
Crystal Structure
晶体结构
Diamond
Lattice Constant(nm)
晶格常数
a=5.4305Å
Density(g/cm3)
密度
2.329
Melting point
熔点(℃)
1410℃
Mohs Hardness(mohs)
莫氏硬度
7
Dielectric Constant
介电常数
11.8
Band Gap(eV)
禁带宽度
1.1
Breakdown Electrical Field ((MV/cm))
击穿电场
0.3
Thermal Conductivity(n-type)(W/cm.K )
热导率(导电型)
1.48
Electron Mobility(cm2·V-1·s-1)
电子迁移率
1480
热膨胀系数 2.6×10^-6 /℃
折射率 3.5

2寸/4寸/6寸/8寸/12寸单晶硅片  蓝宝石偏角度单晶衬底-斜切角晶向衬底  低应力氮化硅片

Goodwafer优质单晶硅片供应商     鑫科汇|2-6寸单晶硅片大量供应

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